DS2000繼(ji)電保護測試(shi)儀采(cai)用雙(shuang)碳(tan)刷調(tiao)壓(ya)器(qi)（即雙(shuang)面調(tiao)調(tiao)壓(ya)器(qi)），大(da)旋鈕調(tiao)節(jie)負載較(jiao)重(zhong)的交(jiao)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)，小(xiao)旋鈕調(tiao)節(jie)負載較(jiao)輕(qing)的交(jiao)直(zhi)流(liu)電(dian)壓(ya)、電(dian)流(liu)，可(ke)兩路(lu)同時(shi)輸(shu)出。采(cai)用0.5級(ji)數字(zi)表(biao)，高(gao)精度(du)傳(chuan)感器(qi)，測量，采(cai)用六位(wei)數(shu)顯電秒(miao)表(biao)，可(ke)滿(man)足時(shi)間測量，實為(wei)繼(ji)電(dian)保護工(gong)作(zuo)人(ren)員外出作業(ye)的(de)良(liang)好工具。

HDBZ-340C三相助(zhu)磁(ci)變(bian)壓(ya)器(qi)直流(liu)電(dian)阻測試(shi)儀儀器(qi)內部(bu)采(cai)用自(zi)動(dong)助(zhu)磁(ci)的(de)方法(fa)，比直(zhi)接(jie)用(yong)大(da)電流(liu)測試(shi)速(su)度(du)快；並(bing)可(ke)選配(pei)消(xiao)磁功能(neng)，可(ke)有(you)效減小(xiao)大(da)電流(liu)測試(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)阻後(hou)剩磁大(da)帶來的(de)危害(hai)。

HDBZ-340C三相助(zhu)磁(ci)變(bian)壓(ya)器(qi)直流(liu)電(dian)阻測試(shi)儀儀器(qi)內部(bu)采(cai)用自(zi)動(dong)助(zhu)磁(ci)的(de)方法(fa)，比直(zhi)接(jie)用(yong)大(da)電流(liu)測試(shi)速(su)度(du)快；並(bing)可(ke)選配(pei)消(xiao)磁功能(neng)，可(ke)有(you)效減小(xiao)大(da)電流(liu)測試(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)阻後(hou)剩磁大(da)帶來的(de)危害(hai)。

L3320三通道(dao)助(zhu)磁(ci)直(zhi)阻測試(shi)儀儀器(qi)內部(bu)采(cai)用自(zi)動(dong)助(zhu)磁(ci)的(de)方法(fa)，比直(zhi)接(jie)用(yong)大(da)電流(liu)測試(shi)速(su)度(du)快；並(bing)可(ke)選配(pei)消(xiao)磁功能(neng)，可(ke)有(you)效減小(xiao)大(da)電流(liu)測試(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)阻後(hou)剩磁大(da)帶來的(de)危害(hai)。

L3340三通道(dao)助(zhu)磁(ci)直(zhi)阻測試(shi)儀儀器(qi)內部(bu)采(cai)用自(zi)動(dong)助(zhu)磁(ci)的(de)方法(fa)，比直(zhi)接(jie)用(yong)大(da)電流(liu)測試(shi)速(su)度(du)快；並(bing)可(ke)選配(pei)消(xiao)磁功能(neng)，可(ke)有(you)效減小(xiao)大(da)電流(liu)測試(shi)直(zhi)流(liu)電(dian)阻後(hou)剩磁大(da)帶來的(de)危害(hai)。