HDBZ-340C三相(xiang)助(zhu)磁變(bian)壓器直流電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)

HDBZ-340C三(san)相(xiang)助(zhu)磁變(bian)壓器直流電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)壹、主(zhu)要特點(dian)

• 壹次(ci)將(jiang)高、低(di)壓電(dian)流電(dian)位測(ce)試(shi)線(xian)全部接(jie)到變(bian)壓器上，測試過程中不(bu)用(yong)再(zai)倒(dao)測(ce)試(shi)線(xian)；
• 對(dui)於星(xing)型接(jie)法(fa)的繞(rao)組(zu)測(ce)試(shi)，儀(yi)器(qi)可以采(cai)取三相(xiang)同(tong)時測(ce)試的方式測試A0、B0、C0相(xiang)的電(dian)阻，節(jie)省測試(shi)時間(jian)；
• 三(san)相(xiang)五(wu)柱低(di)壓內(nei)部(bu)角(jiao)接(jie)的變(bian)壓器低(di)壓測試(shi)時，儀(yi)器內(nei)部(bu)采(cai)用(yong)自動助(zhu)磁的方法，比直接(jie)用(yong)大(da)電(dian)流測(ce)試(shi)速度(du)快；
• 顯示、打(da)印變(bian)壓器的高中低(di)壓繞(rao)組(zu)的全部測(ce)試數據，並自動計(ji)算(suan)出(chu)三相(xiang)不(bu)平衡(heng)度(du)，還可以打(da)印折算(suan)到額(e)定(ding)溫度(du)下的阻值；
• 三(san)相(xiang)測(ce)試時先(xian)測(ce)試(shi)A0的數據，再(zai)三(san)相(xiang)同(tong)時測(ce)試，解(jie)決(jue)了(le)三相(xiang)同(tong)時測(ce)試中性(xing)點(dian)引(yin)出(chu)線電(dian)阻不(bu)能測(ce)試(shi)的問題，測(ce)試(shi)數據更(geng)接(jie)近(jin)單相(xiang)測(ce)試值；
• 具有完善(shan)的反電(dian)勢(shi)保(bao)護功(gong)能；
• 儀(yi)器內(nei)部(bu)可以存儲(chu)測(ce)試數據200條（可擴展），還可以使(shi)用(yong)優(you)盤(pan)存儲(chu)數據方(fang)便(bian)用戶(hu)導(dao)入(ru)電(dian)腦(nao)處理；
• 儀(yi)器具有適用(yong)溫(wen)度(du)寬，精(jing)度(du)高，防(fang)震，抗幹擾，攜帶(dai)方(fang)便等(deng)特點(dian)。

HDBZ-340C三(san)相(xiang)助(zhu)磁變(bian)壓器直流電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)二、主要技術(shu)指(zhi)標及(ji)使(shi)用(yong)條件

1、技(ji)術指(zhi)標

1）測(ce)試電(dian)流：

   三(san)相(xiang)測(ce)試：20A＋20A、10A＋10A、5A＋5A、1A＋1A

   分(fen)相(xiang)測(ce)試：40A、20A、10A、5A、1A、0.2A

2）測(ce)試範圍(wei)：40A：  100.0uΩ  ~  0.5Ω       20A：  500.0uΩ  ~  1Ω     

             10A：  1mΩ     ~  2Ω         5A ：  10mΩ   ~  4Ω

             1A：   100mΩ   ~  20Ω        0.2A：  1Ω     ~  100Ω

20A+20A   200uΩ ~ 0.3Ω        10A+10A   500uΩ~0.6Ω

             5A+5A     10mΩ ~ 1.5Ω         1A+1A    100mΩ ~7Ω

3）zui高(gao)分(fen)辨率：0.1uΩ

4）準(zhun)確(que)度(du)： ±（讀(du)數×0.2%+2字）

5）外(wai)型尺(chi)寸：430mm×320mm×230mm

6）重(zhong)量(liang)： 12kg

2、使(shi)用(yong)條件

1）環(huan)境溫(wen)度(du)： －10℃  ～ 50℃   環(huan)境濕(shi)度(du)： ≤ 85％RH

2）工作電(dian)源(yuan)： AC220V ± 10%  電(dian)源(yuan)頻率： （50±1）Hz

三(san)、面板功(gong)能介(jie)紹(shao)

面板示意(yi)圖（圖(tu)壹）

圖(tu)壹

液(ye) 晶(jing) 屏(ping)：顯示實時時鐘，操作(zuo)菜單(dan)、測(ce)試(shi)數據以及(ji)簡易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

按(an)鍵(jian)：采(cai)用(yong)“↑”、“↓”、“←”、“→”、“確(que)認(ren)”、“返回”六(liu)鍵控(kong)制(zhi)儀(yi)器(qi)所(suo)有功(gong)能操作(zuo)（另(ling)：

      配(pei)有“復位”鍵(jian)，即(ji)在(zai)任(ren)何(he)時候任(ren)何(he)界面，可按(an)此鍵使(shi)儀(yi)器(qi)恢(hui)復到開(kai)機(ji)上電(dian)狀態(tai)）

      基本(ben)功(gong)能：“←”、“→”鍵(jian)移(yi)動光(guang)標（測試(shi)過程中可(ke)修(xiu)改(gai)分(fen)接位），“↑”、“↓”鍵(jian)修

      改(gai)數值，“確(que)認(ren)”鍵執行(xing)所(suo)選操作(zuo)，“返回”鍵(jian)回到上壹頁。

電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)： AC220V電(dian)源(yuan)開(kai)關(guan)

接(jie)地端子： 

接(jie)線端子（高壓）：接被(bei)測(ce)變(bian)壓器的高壓側或(huo)中壓(ya)側

接(jie)線端子（低(di)壓）：接被(bei)測變(bian)壓器的低(di)壓

打(da)印機(ji)：打(da)印測試(shi)數據

USB：優(you)盤(pan)接口(kou)

RS232：廠(chang)家升(sheng)級用

四(si)、儀器(qi)接(jie)線(xian)

1、用(yong)電(dian)源(yuan)線(xian)把儀器(qi)與(yu)外部AC 220 電(dian)源(yuan)連接，用接地線(xian)將(jiang)接(jie)地端子與大(da)地連接。

2、兩(liang)繞(rao)組(zu)變(bian)壓器測(ce)試時依(yi)次(ci)將(jiang)高壓(ya)測(ce)試(shi)線（較長的）的四(si)個測試(shi)鉗（黃(huang)綠(lv)紅(hong)黑(hei)）分(fen)別接到高(gao)壓(ya)側的A、B、C、O套(tao)管上，如果只(zhi)有A、B、C三(san)個套管，可(ke)以將黑(hei)色(se)測試鉗懸(xuan)空(kong)；測(ce)試線(xian)另(ling)壹端與(yu)儀器的接線端子對應連接。將低(di)壓測試(shi)線（較短(duan)的）的三個測試(shi)鉗（黃(huang)綠(lv)紅(hong)）分(fen)別接到低(di)壓側的a、b、c、套(tao)管上，測試線(xian)另(ling)壹端與(yu)儀器的接線端子對應連接。

註(zhu)：整個測試(shi)過程不用倒(dao)線(xian)。

3、三(san)繞(rao)組(zu)變(bian)壓器可(ke)以將高(gao)低(di)壓繞(rao)組(zu)測(ce)試(shi)完(wan)後(hou)，將高壓(ya)測(ce)試(shi)線（較長的）的四(si)個測試(shi)鉗倒(dao)接(jie)到中壓(ya)側測試(shi)即(ji)可(ke)。

4、單(dan)相(xiang)變(bian)壓器使(shi)用(yong)將(jiang)高(gao)壓測試線（較長的）中黃(huang)色(se)和綠(lv)色(se)的測試鉗接(jie)到單(dan)相(xiang)變(bian)壓器的高壓側，低(di)壓測試(shi)線（較短(duan)的）中黃(huang)色(se)和綠(lv)色(se)的測試鉗接(jie)到單(dan)相(xiang)變(bian)壓器的低(di)壓側，測試(shi)線(xian)另(ling)壹端與(yu)儀器的接線端子對應連接。

5、儀(yi)器配(pei)套的測試線已(yi)經將(jiang)電(dian)流、電(dian)壓線(xian)設(she)計(ji)到同(tong)壹鉗口(kou)上，接線簡(jian)單方(fang)便。

五(wu)、使(shi)用(yong)說(shuo)明(ming)

1、儀(yi)器開(kai)機(ji)顯示畫面（如圖(tu)二）

                              請(qing)稍等(deng)，系(xi)統(tong)初(chu)始(shi)化中…

圖(tu)二

     系(xi)統(tong)初(chu)始(shi)化完畢(bi)後(hou)，儀器自(zi)動進(jin)入(ru)主菜單(dan)界(jie)面

2、主(zhu)菜單(dan)（如圖(tu)三）

                      變(bian)壓器直流電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)       2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)三

    在(zai)此界面下，“←”、“→”、“↑”、“↓”均可移(yi)動光(guang)標，棕色變(bian)大(da)菜單(dan)為(wei)選中狀態(tai)，按(an)“確(que)認(ren)”鍵進(jin)入(ru)所(suo)選菜單(dan)。

3、直阻(zu)測(ce)試(shi)菜單(dan)（如圖(tu)四(si)）

3.1參(can)數設置界面

                          測(ce)試參(can)數設置

                        變(bian)壓器繞(rao)組(zu)：高(gao)壓(ya)             簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

                           變(bian)壓器介(jie)質：  銅(tong)

                           變(bian)壓器相(xiang)數：  3

                           測(ce)試溫(wen)度(du)： 25℃

                           折(zhe)算(suan)溫度(du)： 75℃

                   變(bian)壓器直流電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)       2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                    圖(tu)四(si)

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參(can)數，按(an)“確(que)認(ren)”鍵保(bao)存當(dang)前參(can)數並進入(ru)下壹界(jie)面，按(an)“返回”鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

3.2、三(san)相(xiang)變(bian)壓器測(ce)試

如在(zai)圖(tu)四(si)中“變(bian)壓器相(xiang)數”設置為3，儀(yi)器將(jiang)進行(xing)三相(xiang)變(bian)壓器的測量(liang)。

測(ce)量(liang)高(gao)壓(ya)或(huo)中壓(ya)繞(rao)組(zu)時儀(yi)器將(jiang)顯示圖五界面，測量(liang)低(di)壓繞(rao)組(zu)時將(jiang)顯示圖六界面，供用(yong)戶選擇(ze)測試(shi)方(fang)案。

3.2.1測(ce)試方(fang)案選擇(ze)

                  測(ce)試方(fang)案選擇(ze)

                                                   簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

變(bian)壓器直流電(dian)阻測(ce)試(shi)儀(yi)       2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)五

兩(liang)界(jie)面中，用(yong) “↑”“↓”“←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），棕色底(di)色菜單(dan)為(wei)選中狀態(tai)，按(an)“確(que)認(ren)”鍵進(jin)入(ru)測量(liang)界(jie)面，如按(an)返回鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

測(ce)試方(fang)案選擇(ze)

                                                 簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

                     直阻(zu)測(ce)試(shi)               2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)六

兩(liang)界(jie)面中，用(yong) “↑”“↓”“←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），棕色底(di)色菜單(dan)為(wei)選中狀態(tai)，按(an)“確(que)認(ren)”鍵進(jin)入(ru)測量(liang)界(jie)面，如按(an)返回鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

3.2.2 測(ce)試過程

   1） 高(gao)、中壓(ya)單(dan)相(xiang)測(ce)試

   如在(zai)圖(tu)五(wu)中選擇(ze)“單相(xiang)測(ce)試……”，儀器將(jiang)進(jin)入(ru)圖七界面

                                                  簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

                          直阻(zu)測(ce)試(shi)                   2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)七

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參(can)數（分(fen)接位與(yu)測試電(dian)流為(wei)可(ke)修改(gai)項(xiang)），按(an)“確(que)認(ren)”鍵即(ji)可(ke)開(kai)始(shi)測試儀器(qi)將(jiang)進(jin)入(ru)圖八～圖(tu)十(shi)界(jie)面，如按(an)返回鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

                                              簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

                      直阻(zu)測(ce)試(shi)                   2010年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)八

                                              簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

                        I=5.011A

                     1、 充(chong)電(dian)中

                         直阻(zu)測(ce)試(shi)                   2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)九

    充(chong)電(dian)完成(cheng)後(hou)，界面底部(bu)提示進入(ru)第二(er)狀態(tai)“2、測(ce)試中”，第(di)二(er)狀態(tai)後(hou)將進入(ru)第三(san)狀態(tai)“3、實(shi)時測(ce)量(liang)”如圖(tu)十(shi)

I = 5.011A

R=105.9mΩ

                       3、 實(shi)時測(ce)量(liang)

     直阻(zu)測(ce)試(shi)                    2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                  圖(tu)十(shi)

“←”、“→”鍵(jian)可修(xiu)改(gai)分(fen)接位置(zhi)，用“↑”、“↓”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），按(an)確(que)認(ren)鍵執行(xing)所(suo)選操作(zuo)。等(deng)測試數據穩(wen)定(ding)後(hou)，按(an)“打(da)印”則(ze)屏(ping)幕(mu)顯示的測量(liang)值及(ji)先(xian)前設置(zhi)的參(can)數將壹同(tong)打(da)印，如按(an)保(bao)存，屏(ping)幕(mu)將(jiang)彈出(chu)保存窗(chuang)口(kou)提(ti)示選擇(ze)存儲(chu)器(qi)（如圖(tu)十(shi)壹）

                                                    簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

                             001

                             ***

                         直阻(zu)測(ce)試(shi)                       2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)十(shi)壹

用(yong)“↑”、“↓”移(yi)動光(guang)標，按(an)確(que)認(ren)鍵保(bao)存，保存任(ren)務(wu)完(wan)成(cheng)後(hou)儀器自(zi)動回(hui)到測(ce)試(shi)界面，也可不(bu)保存，按(an)返回鍵(jian)即(ji)可(ke)回到測(ce)試(shi)界面。

如果是(shi)有載(zai)調(tiao)壓(ya)繞(rao)組(zu)，可(ke)以調到下(xia)壹分(fen)接位，屏(ping)幕(mu)數據自(zi)動跟蹤測(ce)試，“←”、“→”改(gai)變(bian)屏(ping)幕(mu)的分(fen)接位置(zhi)，測試數據穩(wen)定(ding)後(hou)，按(an)“保(bao)存”數據就(jiu)可(ke)以保存到設(she)置(zhi)的分(fen)接位置(zhi)了。如果對(dui)屏(ping)幕(mu)顯示數據有(you)疑問，可以按(an)“重(zhong)復(fu)測(ce)”，儀器將重新(xin)測(ce)試電(dian)流電(dian)壓信號(hao)，計(ji)算(suan)阻值。壹組(zu)數據測(ce)試(shi)完畢(bi)後(hou)，按(an)“停(ting)止(zhi)測(ce)試”，屏(ping)幕(mu)提(ti)示“正在(zai)放(fang)電(dian)”，並顯示放電(dian)電(dian)流。放(fang)電(dian)結(jie)束後(hou)，屏(ping)幕(mu)重(zhong)新回到圖(tu)七開(kai)始(shi)測試界面，可以更改(gai)測試(shi)電(dian)流或(huo)分(fen)接位置(zhi)（測量(liang)低(di)壓繞(rao)組(zu)時也可修(xiu)改(gai)測試(shi)相(xiang)）繼(ji)續(xu)測試(shi)或(huo)返回上壹界(jie)面選擇(ze)其(qi)它(ta)項(xiang)目進(jin)行(xing)測試(shi)。

2）高(gao)、中壓(ya)三(san)相(xiang)測(ce)試

如在(zai)圖(tu)五(wu)中選擇(ze)“三相(xiang)測(ce)試……”，儀器將(jiang)進(jin)入(ru)圖十(shi)二(er)界(jie)面

             高(gao)壓繞(rao)組(zu)三(san)相(xiang)測(ce)試：

              分(fen)接位置(zhi)：01  測(ce)試電(dian)流： 5A+5A

                                              簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

   直阻(zu)測(ce)試(shi)                        2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                圖(tu)十(shi)二(er)

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參(can)數（分(fen)接位與(yu)測試電(dian)流為(wei)可(ke)修改(gai)項(xiang)），按(an)“確(que)認(ren)”鍵即(ji)可(ke)開(kai)始(shi)測試，如按(an)返回鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

三(san)相(xiang)測(ce)試過程，儀器將(jiang)先(xian)對(dui)AO相(xiang)加(jia)電(dian)，測量(liang)出(chu)AO相(xiang)電(dian)阻值，屏(ping)幕(mu)顯示如圖(tu)十(shi)三(san)

             高(gao)壓繞(rao)組(zu)三(san)相(xiang)測(ce)試：

  分(fen)接位置(zhi)：01  測(ce)試電(dian)流： 5A+5A

               測(ce)試AO相(xiang)

I = 5.011A

R=105.9mΩ

                      3、 實(shi)時測(ce)量(liang)

   直阻(zu)測(ce)試(shi)                        2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                    圖(tu)十(shi)三(san)

儀(yi)器自(zi)動判(pan)斷(duan)阻值穩(wen)定(ding)後(hou)（也可手動判(pan)斷(duan)，點(dian)擊(ji)“繼(ji)續(xu)下壹步(bu)”即(ji)可(ke)放電(dian)，放電(dian)完成(cheng)後(hou)切換(huan)到三(san)相(xiang)充(chong)電(dian)），開(kai)始(shi)放電(dian)，放電(dian)完成(cheng)後(hou)自動切換(huan)到三(san)相(xiang)充(chong)電(dian)電(dian)流，待(dai)電(dian)流穩(wen)定(ding)後(hou)自動計(ji)算(suan)三相(xiang)阻(zu)值（帶中性(xing)點(dian)）如（圖(tu)十(shi)四(si)～圖(tu)十(shi)五(wu)）。

            高(gao)壓繞(rao)組(zu)三(san)相(xiang)測(ce)試：

  分(fen)接位置(zhi)：01  測(ce)試電(dian)流： 5A+5A

     I = 5.011A

     I =10.022A

     I = 5.011A

                         1、 充(chong)電(dian)中

        直阻(zu)測(ce)試(shi)                        2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                   圖(tu)十(shi)四(si)

充(chong)電(dian)完成(cheng)後(hou)，界面底部(bu)提示進入(ru)第二(er)狀態(tai)“2、測(ce)試中”，第(di)二(er)狀態(tai)完(wan)成後(hou)將進入(ru)實時測(ce)量(liang)狀態(tai)如圖(tu)十(shi)五(wu)

            高(gao)壓繞(rao)組(zu)三(san)相(xiang)測(ce)試：

  分(fen)接位置(zhi)：01  測(ce)試電(dian)流： 5A+5A

    R = 105.9mΩ

    R = 105.1mΩ

    R = 103.4mΩ

   不(bu)平衡(heng)率：  δ=2.384%

      直阻(zu)測(ce)試(shi)                        2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                   圖(tu)十(shi)五(wu)

“←”、“→”鍵(jian)可修(xiu)改(gai)分(fen)接位置(zhi)，用“↑”、“↓”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），按(an)確(que)認(ren)鍵執行(xing)所(suo)選操作(zuo)。等(deng)測試數據穩(wen)定(ding)後(hou)，按(an)“打(da)印”則(ze)屏(ping)幕(mu)顯示的測量(liang)值及(ji)先(xian)前設置(zhi)的參(can)數將壹同(tong)打(da)印，如按(an)保(bao)存，屏(ping)幕(mu)將(jiang)彈出(chu)保存窗(chuang)口(kou)提(ti)示選擇(ze)存儲(chu)器(qi)（請參(can)照單相(xiang)測(ce)試保存方法(fa)）。

如果是(shi)有載(zai)調(tiao)壓(ya)繞(rao)組(zu)，可(ke)以調到下(xia)壹分(fen)接位，屏(ping)幕(mu)數據自(zi)動跟蹤測(ce)試，“←”、“→”改(gai)變(bian)屏(ping)幕(mu)的分(fen)接位置(zhi)，測試數據穩(wen)定(ding)後(hou)，按(an)“保(bao)存”將數據保(bao)存到顯示分(fen)接位置(zhi)的值。調整有載分(fen)接開(kai)關(guan)，調到下(xia)壹個分(fen)接，儀器(qi)跟蹤測(ce)試阻(zu)值並顯示出(chu)來。也可以按(an)“重(zhong)復(fu)測(ce)”重新采(cai)集(ji)電(dian)壓電(dian)流信號(hao)，進(jin)行(xing)計算(suan)。按(an)“←”、“→”鍵(jian)調(tiao)整儀(yi)器顯示的分(fen)接位置(zhi)，等(deng)數據穩(wen)定(ding)後(hou)，按(an)“保(bao)存”將數據保(bao)存到顯示分(fen)接位置(zhi)的值。壹直測(ce)完(wan)所(suo)有分(fen)接，然(ran)後(hou)選擇(ze)“停止(zhi)測(ce)試”按(an)鈕，按(an)“確(que)認(ren)”鍵開(kai)始(shi)放電(dian)，等(deng)放電(dian)結(jie)束，儀器(qi)回到圖(tu)十(shi)二(er)測(ce)試(shi)界面，可以更改(gai)測試(shi)電(dian)流繼(ji)續(xu)測試(shi)或(huo)返回上壹界(jie)面選擇(ze)其(qi)它(ta)項(xiang)目進(jin)行(xing)測試(shi)。

3）低(di)壓繞(rao)組(zu)測(ce)試(shi)

如在(zai)圖(tu)六(liu)中選擇(ze)“四(si)點(dian)法(fa)測(ce)試”儀器將(jiang)進入(ru)圖十(shi)六(liu)界(jie)面

                   如選擇(ze)“助(zhu)磁法測試(shi)”此處將顯示助(zhu)磁法測試(shi)

            四(si)端法(fa)測試低(di)壓繞(rao)組(zu)：

                                              簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

   直阻(zu)測(ce)試(shi)                        2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

圖(tu)十(shi)六(liu)

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參(can)數（分(fen)接位、測(ce)試電(dian)流與(yu)測(ce)試相(xiang)為(wei)可修改(gai)項(xiang)），按(an)“確(que)認(ren)”鍵即(ji)可(ke)開(kai)始(shi)測試，如按(an)返回鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

低(di)壓繞(rao)組(zu)具體(ti)測(ce)試、打(da)印和保(bao)存過程請參(can)照高、中壓(ya)單(dan)相(xiang)測(ce)試過程。

3.3 單(dan)相(xiang)變(bian)壓器測(ce)試

    按(an)單(dan)相(xiang)變(bian)壓器接(jie)線方(fang)法(fa)接好(hao)線後(hou)，在(zai)測(ce)試(shi)參(can)數設置界面（圖四(si)）中將(jiang)“變(bian)壓器相(xiang)數”設置為1，儀(yi)器將(jiang)進行(xing)單相(xiang)變(bian)壓器的測量(liang)，進(jin)入(ru)圖十(shi)七界面。

                                        AB      簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

   直阻(zu)測(ce)試(shi)                        2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                  圖(tu)十(shi)七

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參(can)數（分(fen)接位與(yu)測試電(dian)流為(wei)可(ke)修改(gai)項(xiang)），按(an)“確(que)認(ren)”鍵即(ji)可(ke)開(kai)始(shi)測試，如按(an)返回鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

具體(ti)測(ce)試、打(da)印和保(bao)存過程請參(can)照高、中壓(ya)單(dan)相(xiang)測(ce)試過程。

4、溫(wen)升試(shi)驗菜單(dan)

如用(yong)戶選擇(ze)溫升(sheng)試(shi)驗菜單(dan)，請(qing)參(can)照第3項(xiang)中直阻(zu)測(ce)試(shi)過程，則(ze)圖四(si)～圖(tu)十(shi)七左下(xia)角(jiao)任(ren)務(wu)欄將顯示“溫升試驗”字樣(yang)，並且儀器(qi)測出(chu)阻值後(hou)將每隔(ge)30秒(miao)鐘自動打(da)印壹次(ci)當(dang)前數據。

5、數據存取菜單(dan)

在(zai)主(zhu)菜單(dan)界(jie)面選擇(ze)數據存取進入(ru)數據存取界面，如圖(tu)十(shi)八

                    測(ce)試記(ji)錄(lu)====記(ji)錄(lu)號(hao)：001

數據存取                      2010年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                   圖(tu)十(shi)八

用(yong)“↑”、“↓”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），確(que)認(ren)鍵執行(xing)所(suo)選操作(zuo)，用(yong)“←”、“→”可(ke)改(gai)變(bian)折算(suan)溫度(du)值（折算(suan)值根(gen)據溫(wen)度(du)值改(gai)變(bian)），然(ran)後(hou)按(an)“打(da)印”或(huo)“轉(zhuan)存”按(an)鈕可打(da)印或(huo)轉(zhuan)存至U盤(pan)當(dang)前記(ji)錄(lu)並自動按(an)當(dang)前設定(ding)折算(suan)溫度(du)算(suan)出(chu)折算(suan)值。

特(te)別說明(ming)：

本(ben)儀(yi)器(qi)在(zai)進(jin)入(ru)數據存取界面時，自(zi)動讀(du)取存儲(chu)器(qi)中壹條記(ji)錄(lu)，用(yong)戶可以按(an)“上壹條”按(an)鈕查詢(xun)過去(qu)記(ji)錄(lu)，打(da)印時將(jiang)彈出(chu)窗(chuang)口(kou)供(gong)用(yong)戶(hu)選擇(ze)單條打(da)印或(huo)多(duo)條打(da)印，單條打(da)印即(ji)打(da)印當(dang)前顯示記(ji)錄(lu)，多(duo)條打(da)印即(ji)從(cong)當(dang)前記(ji)錄(lu)開(kai)始(shi)向前打(da)印n條記(ji)錄(lu)，通(tong)過“←”、“→”可(ke)設定(ding)打(da)印起(qi)始記(ji)錄(lu)號(hao)，結(jie)束記(ji)錄(lu)號(hao)即(ji)為(wei)當(dang)前顯示記(ji)錄(lu)號(hao)。

6、高(gao)壓消(xiao)磁菜單(dan)

在(zai)主(zhu)菜單(dan)界(jie)面選擇(ze)高壓(ya)消(xiao)磁進入(ru)高壓(ya)消(xiao)磁界面，如圖(tu)十(shi)九

               高(gao)壓消(xiao)磁：

                 消(xiao)磁相(xiang)： AB   消(xiao)磁電(dian)流：5A   簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

高(gao)壓消(xiao)磁                      2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                圖(tu)十(shi)九

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)修改(gai)參(can)數（消(xiao)磁相(xiang)為(wei)可修改(gai)項(xiang)），按(an)“確(que)認(ren)”鍵即(ji)可(ke)開(kai)始(shi)消(xiao)磁（圖二十(shi)、圖(tu)二(er)十(shi)壹），如按(an)返回鍵(jian)將返回上壹界(jie)面。

                   高(gao)壓消(xiao)磁：

                   消(xiao)磁相(xiang)： AB   消(xiao)磁電(dian)流： 5A    簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

正在(zai)充(chong)電(dian)：x.xxxA

                        消(xiao)磁進度(du)： 0%

高(gao)壓消(xiao)磁                      2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                       圖(tu)二十(shi)

                 高(gao)壓消(xiao)磁：

                    消(xiao)磁相(xiang)： AB   消(xiao)磁電(dian)流： 5A   簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

                            消(xiao) 磁 完(wan) 成(cheng)

                      消(xiao)磁進度(du)：100%      

高(gao)壓消(xiao)磁                      2016年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                     圖(tu)二十(shi)壹

當(dang)消(xiao)磁進度(du)達到100%後(hou)，界面提示“消(xiao)磁完成”並伴有蜂(feng)鳴器鳴叫(jiao)，告(gao)知用(yong)戶(hu)消(xiao)磁過程已完成(cheng)，可(ke)進(jin)行(xing)下壹項(xiang)任(ren)務(wu)。

7、時鐘設置

                       20106年(nian) 8月(yue)30日(ri)   簡(jian)易(yi)操作(zuo)說(shuo)明(ming)

              10時 28分(fen) 30秒(miao)

時鐘設置                      2010年(nian)8月(yue)30日(ri) 10：28：30

                                     圖(tu)二十(shi)二(er)

用(yong) “←”、“→”移(yi)動光(guang)標（光標可循環移動，以便用(yong)戶(hu)快速選擇(ze)），“↑”、“↓”鍵(jian)可修(xiu)改(gai)數值，按(an)確(que)認(ren)鍵設(she)定時鐘，按(an)返回鍵(jian)時鐘保持原(yuan)來值，並返回主(zhu)菜單(dan)。

8、廠(chang)家設(she)置

此菜單(dan)為(wei)廠(chang)家(jia)維護時後(hou)臺操作(zuo)界(jie)面，需輸入(ru)密碼方可進入(ru)，用戶(hu)勿(wu)進(jin)，以防(fang)系(xi)統(tong)出(chu)錯。

六(liu)、操作(zuo)註(zhu)意(yi)事項(xiang)

儀(yi)器有(you)反電(dian)動勢(shi)保(bao)護功(gong)能，但(dan)在(zai)使(shi)用(yong)過程中仍(reng)需按(an)以下逐(zhu)條操作(zuo)，以確(que)保(bao)試驗人(ren)員(yuan)及(ji)儀器(qi)的安(an)全。

1、在(zai)無(wu)載(zai)調壓繞(rao)組(zu)，不(bu)允(yun)許(xu)在(zai)測(ce)試(shi)過程中或(huo)未(wei)放完(wan)電(dian)時切換(huan)無(wu)載(zai)分(fen)接開(kai)關(guan)；

2、在(zai)測(ce)試(shi)過程中不(bu)允(yun)許(xu)拆(chai)除(chu)測試(shi)線。

3、在(zai)高(gao)壓(ya)端子測試過程中，變(bian)壓器中壓(ya)和低(di)壓端必(bi)須開(kai)路(lu)。

七、售後(hou)服務(wu)

1、凡(fan)購本(ben)公(gong)司(si)產品(pin)隨機(ji)攜帶(dai)產品(pin)保修(xiu)單，訂購產品(pin)交(jiao)貨(huo)時，請(qing)當(dang)場檢(jian)驗並填(tian)好(hao)保修(xiu)單。

2、自(zi)購機(ji)之(zhi)日(ri)起(qi)，憑(ping)保(bao)修(xiu)單(dan)保(bao)修二年(nian)，終(zhong)身(shen)維護。在(zai)保(bao)修(xiu)期(qi)內(nei)，維修不(bu)收(shou)維修費(fei)；保修(xiu)期(qi)外(wai)，維修調(tiao)試收(shou)取適當(dang)費用(yong)。

3、屬(shu)下列(lie)情(qing)況之(zhi)壹者(zhe)不予保(bao)修：

1）用(yong)戶對(dui)儀器有(you)自(zi)行(xing)拆(chai)卸(xie)或(huo)對(dui)儀器(qi)工藝(yi)結(jie)構(gou)有(you)人(ren)為(wei)改(gai)變(bian)。

2）因用(yong)戶(hu)保管或(huo)使(shi)用(yong)不(bu)當(dang)造成(cheng)儀器(qi)的嚴重損壞(huai)。

3）屬(shu)於用(yong)戶其(qi)它(ta)原(yuan)因造(zao)成(cheng)的損壞(huai)。