微機(ji)繼(ji)電(dian)保(bao)護(hu)測(ce)試儀是測(ce)量(liang)變壓器(qi)繞組和大(da)功率電(dian)感(gan)設(she)備(bei)的(de)直流(liu)電(dian)阻(zu)的(de)設(she)備(bei)，由(you)於(yu)采用(yong)了(le)電(dian)源技術(shu)，具(ju)有(you)測(ce)試速(su)度(du)快(kuai)，測(ce)量(liang)精度(du)高等優(you)點(dian)。微機(ji)繼(ji)電(dian)保(bao)護(hu)測(ce)試儀采用(yong)可單(dan)機(ji)獨立(li)運(yun)行，也(ye)可聯(lian)接(jie)其(qi)它電(dian)腦(nao)運(yun)行的*結(jie)構(gou)，主機(ji)內置(zhi)高性能(neng)工(gong)控(kong)機(ji)和高速數(shu)字信號處(chu)理(li)器，真(zhen)16位(wei)DAC模塊(kuai)、新型模塊(kuai)式(shi)高保(bao)真大(da)功率功放，自(zi)帶(dai)TFT真(zhen)彩(cai)色(se)LCD顯示(shi)器和嵌入(ru)式(shi)微(wei)機(ji)鍵盤(pan)。在(zai)使(shi)用(yong)過(guo)程(cheng)中，我們需要(yao)註(zhu)意哪(na)些(xie)問題呢？
1、開始(shi)試驗(yan)之前(qian)，確(que)認(ren)儀器機(ji)殼可靠接(jie)地(di)。
2、測(ce)試線必(bi)須要(yao)在放(fang)電(dian)指示(shi)完畢後(hou)才能(neng)拆(chai)除。由於(yu)儀器的輸(shu)出端設(she)置(zhi)了放電(dian)電(dian)路，儀器復(fu)位之後(hou)任有(you)電(dian)感(gan)能(neng)量(liang)通(tong)過(guo)儀器泄放(fang)出來，為(wei)了(le)避(bi)免電(dian)感(gan)放(fang)電(dian)對人(ren)員(yuan)和設備(bei)造成(cheng)危害，所以(yi)壹定(ding)等(deng)放(fang)電(dian)指示(shi)完畢之後(hou)再(zai)拆(chai)除測(ce)試線。
3、如果(guo)測(ce)試中突然(ran)電(dian)源斷(duan)電(dian)，不要立(li)即拆(chai)除接(jie)線，由於(yu)儀器會自(zi)動開始(shi)放電(dian)，因(yin)此(ci)至少(shao)等(deng)待(dai)半分鐘之後(hou)才(cai)能(neng)產出(chu)接(jie)線。
4、測(ce)量(liang)過(guo)程(cheng)中，對於(yu)無載(zai)調壓變壓器(qi)在整個(ge)測(ce)試過(guo)程(cheng)裏不允許切換(huan)分(fen)接(jie)開(kai)關(guan)。
5、測(ce)量(liang)時沒(mei)有(you)測(ce)試的(de)繞(rao)組(zu)不要短路接(jie)地(di)，因(yin)為(wei)如(ru)果(guo)這(zhe)樣(yang)會導(dao)致(zhi)變壓器(qi)充磁過(guo)程(cheng)變慢(man)，數(shu)據(ju)穩定(ding)時(shi)間(jian)延長或(huo)數(shu)值不對。
6、儀器是斷(duan)電(dian)試驗(yan)，因(yin)此(ci)開(kai)始(shi)試驗(yan)前(qian)確(que)認(ren)北(bei)側(ce)設(she)備(bei)已(yi)斷(duan)電(dian)，以及與其(qi)他(ta)帶(dai)點(dian)設備(bei)都(dou)斷(duan)開。
7、接(jie)通(tong)電(dian)源之前(qian)務必(bi)檢查電(dian)源電(dian)壓：交(jiao)流 220V±10%，50Hz。
8、試驗(yan)時(shi)，不要將雜(za)物(wu)堆放(fang)在(zai)設(she)備(bei)面(mian)板(ban)上(shang)或(huo)者(zhe)儀器周圍(wei)。
9、使(shi)用(yong)過(guo)程(cheng)中註意(yi)防油(you)汙(wu)，防潮(chao)。
10、如(ru)需(xu)跟(gen)換(huan)配(pei)件，需要(yao)與廠家(jia)確(que)認(ren)儀器型號，壹(yi)遍(bian)匹配壹致(zhi)。
